研究：手機SIM卡耐450度高溫 有助犯罪調查

【大紀元1月23日報導】（中央社巴黎二十三日法新電）科學家今天說，手機內的「用戶識別模組」卡（簡稱SIM卡）處於高達攝氏四百五十度高溫仍不會毀損，甚至不怕更高的溫度，這項發現有助於調查恐怖攻擊與其他犯罪。

SIM卡是手機的心臟，能提供撥打或接獲電話的號碼與簡訊的紀錄。

因此如果調查人員想要得到完整無缺的資料，這塊由塑膠與矽製成、大小如同指甲的晶片，對他們而言就如同金礦。

舉例來說，二零零四年三月十一日造成一百九十一人死亡的馬德里列車爆炸案，調查人員從意圖引發兩枚未爆彈的嫌犯的手機裡取得SIM卡，調查工作因此獲得突破。

倫敦大學學院的電子工程師瓊斯與肯揚進行一項不尋常的研究，讓SIM卡接受高溫的考驗。

研究人員利用酸液，小心剝除鎔鑄在每片晶片四週的保護性環氧樹脂，以暴露出其內部迴路。

接著將SIM卡放在高溫空氣中十分鐘，然後冷卻，接著研究人員將微型探測器連接至迴路，透過介面裝置讀取晶片內容。

六張SIM卡加熱至攝氏一百八十度左右，重新連接線路後仍可讀取，資料並未消失。

五張SIM卡則加熱至攝氏四百五十度，其中四張研究人員無法讀取，但第五張可以短暫讀取。

第十二張卡加熱至攝氏六百五十度，無法讀取。

瓊斯與肯揚說，實驗證實SIM可以耐得住攝氏四百五十度高溫，甚至還可以更高。

他們指出，他們採用重接線路的技術，對於想要研究受損SIM卡的鑑識專家而言，甚至還不是最後手段。

他們可以採取其他高科技資料讀取方式，包括研究晶片內部與處理器的連結、監控晶片運轉時的耗電，以及利用所謂的電子掃描式探針顯微鏡，讀取SIM卡內部迴路主要「通路」的電荷量。